概述無(wú)損檢測(cè)技術(shù)
a.首先無(wú)損檢測(cè)基于現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)基礎(chǔ)上建立的一門技術(shù)。無(wú)損檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用物理方法、檢測(cè)物體內(nèi)部或表明的結(jié)構(gòu)、狀態(tài)和性能，檢查物質(zhì)內(nèi)部是否存在缺陷，從而判斷被檢測(cè)物體是否合格，并評(píng)價(jià)其適應(yīng)性，以上都在不損壞被檢測(cè)物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的前提下完成。定量掌握構(gòu)件內(nèi)缺陷與強(qiáng)度的關(guān)系，評(píng)價(jià)其**性；檢測(cè)各種設(shè)備或工業(yè)系統(tǒng)在制造、安裝、使用過(guò)程中存在的不完整性及缺陷情況，以利改進(jìn)這些設(shè)備、工業(yè)系統(tǒng)的制造工業(yè)，提高產(chǎn)品質(zhì)量，及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障，保證它們**、高效、可靠地運(yùn)行，以上均為無(wú)損檢測(cè)的目的。概述無(wú)損檢測(cè)技術(shù)
b.射線檢測(cè)、超聲波檢測(cè)、渦流檢測(cè)、滲透檢測(cè)、磁粉檢測(cè)都為規(guī)無(wú)損檢測(cè)老的方法.
c.聲振檢測(cè)方法、微波無(wú)損檢測(cè)、紅外線無(wú)損檢測(cè)、激光全息檢測(cè)、漏磁無(wú)損檢測(cè)以上都為無(wú)損檢測(cè)的新方法。
d.發(fā)展前景：隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，各學(xué)科間相互滲透，新的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)不斷涌現(xiàn)，檢測(cè)的方法層出不窮，一套較為完整的無(wú)損檢測(cè)體系已存在于工業(yè)化生產(chǎn)的各個(gè)領(lǐng)域。目前無(wú)損檢測(cè)技術(shù)正向無(wú)損評(píng)估方向發(fā)展。無(wú)損檢測(cè)以檢出缺陷為目的，如果有超標(biāo)缺陷，一般由檢測(cè)人員決定如何處理。處理方法應(yīng)取決于對(duì)缺陷進(jìn)行有效的評(píng)估，因此無(wú)損評(píng)估在無(wú)損檢測(cè)的基礎(chǔ)上應(yīng)運(yùn)而生。
e.無(wú)損檢測(cè)的質(zhì)量理念,無(wú)損檢測(cè)自誕生之日起就與質(zhì)量結(jié)下不解之緣，無(wú)損檢測(cè)是現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中質(zhì)量控制和質(zhì)量保證的重要方法。
f.無(wú)損檢測(cè)可視化技術(shù),隨著納米技術(shù)的發(fā)展，納米材料制成的可視化圖像采集器件比現(xiàn)在的圖像增強(qiáng)器體積更小，容量更大，分辨率更高，圖像更加清晰。可以預(yù)想，納米技術(shù)將會(huì)進(jìn)一步推動(dòng)可視化檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展。
g.我們無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展,我們?cè)S多重要企業(yè)普遍缺少必要的檢測(cè)技術(shù)、檢測(cè)設(shè)備和合格的檢測(cè)檢測(cè)人員，缺少對(duì)原材料、半成品以至產(chǎn)品進(jìn)行必要的檢測(cè)，這樣既加大了生產(chǎn)成本，又不能可靠保證產(chǎn)品的質(zhì)量；我們無(wú)損檢測(cè)生產(chǎn)廠家主要生產(chǎn)傳統(tǒng)的無(wú)損檢測(cè)儀器和設(shè)備，不能滿足現(xiàn)代工業(yè)產(chǎn)品高溫、高壓、高速、高應(yīng)力特點(diǎn)對(duì)無(wú)損檢測(cè)設(shè)備的要求；許多行業(yè)，還無(wú)法嚴(yán)格執(zhí)行無(wú)損檢測(cè)規(guī)范、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)；企業(yè)缺少**無(wú)損檢測(cè)的專業(yè)人才，造車部分企業(yè)花費(fèi)巨資引進(jìn)的無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、資料不能系統(tǒng)消化、設(shè)備不能正常操作、功能不能技術(shù)維護(hù)。
概述無(wú)損檢測(cè)技術(shù)
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HONEYWELL DR4200 DR4500 DR4300 DPR100 DPR3000 DPR1000 DPR250 DPR180 DR4500 TRULINE等等
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概述無(wú)損檢測(cè)技術(shù)
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